双丝像质计被应用在许多X射线应用中，特别是用于评价图像不清晰度（胶片和数字影像）和数字图像的基本空间分辨率，根据EN13068 (X射线透视) ，EN14784 和 ISO 13671 （基于成像板的CR）ISO 17636-2 (焊缝的数字放射学-平板探测器)或用ASTM E 2597（数字探测器阵列特性）。新的ISO标准正在准备中，描述使用双丝像质计测定X射线管的焦斑尺寸的可能性。